NXP Semiconductors получила награду за инновации. 21.by

NXP Semiconductors получила награду за инновации

18.05.2010 17:26 — Новости Hi-Tech |  
Размер текста:
A
A
A

Источник материала:

NXP Semiconductors объявила о получении награды международной выставки LIGHTFAIR International (LFI) 2010 за технологические инновации, присужденной ей за микросхему с регулировкой мощности SSL2102. NXP награждена за наиболее прогрессивное технологическое решение в отрасли для систем освещения и является одной из четырех компаний, признанных LFI лидерами разработок инновационных продуктов и технологии осветительных систем.

В рамках ежегодного конкурса на получение наград LFI за Инновации демонстрируются новые продукты и разработки в области осветительных систем, представляющие лучшие решения с точки зрения инновационного дизайна и мышления. Решение NXP было выбрано из почти 200 заявленных на конкурс продуктов, представленных на рынок за последние 12 месяцев или объявленных в рамках LFI2010.

SSL2102 представляет собой микросхему контроллера источника питания с режимом переключения (SMPS), разработанную для управления светодиодными устройствами. Она работает в сочетании в диммером с отсечением фазы (phase cut dimmer) непосредственно от источника выпрямленного тока и содержит высоковольтный переключатель напряжения и схему, позволяющую напрямую подключить ее к источнику выпрямленного тока. SSL2102 также содержит высоковольтное схемное решение для питания диммера с отсечением фазы.

SSL2102 входит в состав семейства продуктов NXP, разработанных для поддержки широкого диапазона драйверов AC/DC светодиодов, включающее также микросхему последнего поколения SSL2103, представленную 6 мая 2010 г.
 
 
Чтобы разместить новость на сайте или в блоге скопируйте код:
На вашем ресурсе это будет выглядеть так
NXP Semiconductors объявила о получении награды международной выставки LIGHTFAIR International (LFI) 2010 за технологические инновации, присужденной ей за микросхему с регулировкой...
 
 
 

РЕКЛАМА

Архив (Новости Hi-Tech)

РЕКЛАМА


Яндекс.Метрика